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テスティング

生産してきた主なテスト製品: LCDドライバ、携帯用音源、メモリ など

1.概要

基本的なDC電圧/電流の印加とDC電圧/電流の測定が行える簡易DCテスタ-を用いることにより、
半導体製品のDCテストが可能です。
また、ウエハプローバを接続していますので、 ウエハ状態でのプロービング測定も行えます。
半導体製品の他に、四角形のセラミック/ガラス基板上に形成された磁気センサ素子などのDCテストも
可能であり、また、四角形の基板に合わせたプローブカード等のテストツールも設計致します。

2.測定可能な製品例

1.半導体製品の電気的DCテスト

2.磁気センサ素子(MI、MR素子)のプロービングによるDCテスト

3.ウエハ形状については円形のシリコン(半導体)基板や、磁気センサ素子などが
  形成された四角形の   セラミック/ガラス基板についてのDCテストも対応致します。

3.テスタ-とプローバの仕様

最大測定数         :64ピン(Max512pinまで増設可)
四角形基板サイズ    :□50mmから140mm
ウエハサイズ        :4インチから8インチ
シリコン/ガラス基板厚  :最大1mm

  • ウエハプローバ

  • 簡易DCテスタ

4.お客様へのメリット

ウエハ(基板)状態でのプロービングによるDCテストを行うことで事前に不良チップを除去出来ますので
お客様での最終組立工程での歩留まりが向上するメリットがございます。

テスティング設備例

お客様の製品仕様(選別項目)に応じた簡易テスト治具の設計・作成から製品の特性選別まで対応致します。

汎用/専用テスターなど装置を購入した対応では、“大きな投資が必要”!!
“小さな投資で大きな対応”

簡易テスト治具でのサポート事例

1.液晶パネルの電気的動作・表示の特性選別対応
液晶パネルのドット表示の特性選別を実現、表示パネルの欠陥を抽出
選別項目
液晶パネル表示不能 ・ドット抜け ・LEDバックライト点灯有無・コントラスト機能

液晶パネルの電気的検査治具

 

2.高耐圧パワーMOSFETのVt(閾値電圧)ランク分け選別対応
選別項目
高耐圧パワーMOSFETのVtバラツキに対応したランク分け(2.1v~3.9vの範囲で6ランク)選別

パワーMOSFETランク分け治具

 

3.その他の応用例
LED照明に用いるLEDのVF(順方向電圧)バラツキに対応したランク分け等の対応も可能です。